可控硅测量方法视频（可控硅测试方法）

发布时间：2023-07-26

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测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

使用数字万用表检查可控硅数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。

单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

单向可控硅用万用表的R乘1欧挡。用红黑笔测任意两引脚间的正反向电阻。找出读书为数十欧姆的一对引脚，其中黑表笔为G极，红表笔为K极，空引脚为A极。

短路一下可控硅(+)到可控硅触发极，灯泡会保持点亮状态，这个可控硅是好的。当灯泡保持打开时：测量晶闸管两端的电压值，即晶闸管的电压降。

用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。具体方法是：用R×1k或R×10k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。

1、对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不息灭。然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。否则说明该器件已损坏。

2、反向测量，对调万用表红、黑表笔测量可控硅两个主电极，黑表笔再触碰一下可控硅控制极一下再离开，可控硅被触发导通---测量过程同第1次，只是调换了可控硅两个主电极的方向测量了可控硅反向导通和维持导通的能力。

3、用万用表即可判断双向可控硅的好坏，但具体参数测不出来。

4、双向可控硅的检测：用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。

5、这种测量方法是有局限性的，当A和K处于开路状态时，质量无法测量。G和K之间有些电阻值极小，很难判断两个控制电极是否已经短路。如果负极A接黑色探针，负极K接红色探针，万用表指针会偏转，说明单向晶闸管已经损坏。

6、这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。

可控硅测量方法视频（可控硅测试方法）

单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。

可控硅测量好坏可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

1、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

2、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

3、单向可控硅用万用表的R乘1欧挡。用红黑笔测任意两引脚间的正反向电阻。找出读书为数十欧姆的一对引脚，其中黑表笔为G极，红表笔为K极，空引脚为A极。

4、可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

5、tyn0512单向可控硅的测量。将万用表拨至二极管档位，红黑表针正反测量可控硅的任意两脚，只有一组有数值显示的为正常。

6、先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A极（对单向可控硅）也可能是TT1或TG极（对双向可控硅）。若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅。